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LT/LN Wafer Laser Stealth Dicing System
Anwendungsbereiche

LT/LN Wafer Laser Stealth Dicing System

Maschinenmerkmale

1. Light‑source system developed for the characteristics of LT/LN materials enables high‑precision internal‑modification dicing.

2. High‑speed dicing, superior chipping control, compatible with front‑side and rear‑side dicing processes.

3. Consumable‑free operation and zero‑material‑loss processing.

4. Fully‑automatic operation, compatible with 4‑inch and 6‑inch wafers.

5. Provide systematic solutions, with supporting wafer‑splitting and wafer‑expanding devices.

6. Comply with SEMI standards and support the SECS‑GEM communication protocol.


Anwendungsbereiche

It is adopted for internal‑modification dicing of LT/LN substrate wafers for audio‑video filters, satellite filters, mobile‑communication filters, wireless remote‑control resonators and other components. End‑devices are applied in high‑end‑communication sectors covering mobile phones, two‑way radios, satellite communications and aerospace.


OLED- und LCD-Panelindustrie
Halbleiterindustrie
Technical Data Sheet

Machine Model

LT/LN Wafer Laser Stealth Dicing   System

Wafer Substrate

LT/LN‑based Substrate

Wafer Size

4‑inch, 6‑inch

Wafer Thickness

50μm-500μm

Dicing Speed

600mm/s-800mm/s

Positioning Accuracy

Repositioning Accuracy：±1μ Positioning Accuracy：±1μm

Transport System

Load port, robot, aligner

Dimensions (LxWxH)

2070mm×1420mm×2238mm


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